上海上分紫外可见分光光度计UV765CRT

产品简介：

UV765系列紫外-可见分光光度计可以满足日常分析到科学研究等广泛的应用需求。仪器采用[Cutting-edge合理的光路系统、低噪声的电路设计，具有出色的可靠性和稳定性。

产品特点：

● 比例双光束，保证极好的稳定性。

● 超低的杂散光，[excellent的波长[accurate度。

● 高清晰度大屏幕LCD显示，流畅的人机对话操作。

● 长寿命石英涂膜光学部件。

● 常规测量功能：光度测量、定量测定、光谱扫描、时间扫描。

● 显示和储存各种数据和图谱，支持专用打印机。

● 自动校正功能，确保每次测量数据[accuracy]。

● 自动寻找灯源理想中位置，独立灯室，灯源更换简单方便。

● 大样品室，自动8联样品架。

● 自诊断功能，随时检查仪器状态和性能。

● 波长范围：190nm～1100nm

● 波长髙至允许误差：±0.5nm

● 波长重复性：≤0.2nm

● 光谱带宽：2nm

● 杂散光：≤0.05%（τ）（在220nm处，以NaI测定，在360nm处,以NaNO2测定）

● 透射比测量范围：0.0%（T）～200.0% (T）

● 吸光度测量范围：-0.301（A）～3.00(A)

● 透射比髙至允许误差：±0.3%（τ）

● 漂移：≤0.001A/h

● 透射比重复性：0.15%（T）

● 基线平直度：±0.002A

● 噪声：100%噪声≤0.15%（T） 0%噪声≤0.10%(T)

● 扫描速度；快、中、慢